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タイトル: システム故障診断に関する研究(1)内部テスト端子数の下限および最少内部テスト端子の決定アルゴリズム
その他のタイトル: STUDIES ON THE SYSTEM DIAGNOSIS Part 1 The Greatest Lower Bounds on the Numher of the Internal Test-Terminals and the AIgorithm of Determination for the Minimum Internal Test-Terminals in System Diagnosis
著者: 松本, 忠
飛田, 義孝
MATSUMOTO, Tadashi
TOBITA, Yoshitaka
発行日: 3月-1974
掲載誌: 福井大学工学部研究報告
巻: 22
号: 1
資料タイプ: Departmental Bulletin Paper
URI: http://hdl.handle.net/10098/4652
ISSN: 04298373
出現コレクション:第22巻(1974)

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