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タイトル: Raman Scattering Characterization of Annealed GaN_xAs_<1-x> Layers
著者: FURUHATA, Takashi
KITANO, Takeshi
MAGARA, Hiroyuki
MASUDA, Atsushi
TANAKA, So
MOTO, Akihiro
TAKAHASHI, Mitsuo
TANABE, Tatsuya
TAKAGISHI, Shigenori
YAMAMOTO, Akio
HASHIMOTO, Akihiro
キーワード: GaN_xAs_<1-x>
Raman scattering
natural superlattice cluster
thermal annealing
N-H bond
発行日: 30-11月-2009
出版者: The Institute of Pure and Applied Physics
掲載誌: Proceedings of International Workshop on Nitride Semiconductors
資料タイプ: Journal Article
シリーズ番号/レポート番号: IPAP Conference Series 1
URI: http://hdl.handle.net/10098/2227
出現コレクション:01 雑誌等掲載論文

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